Количественный анализ без стандартов.
Results ANSI 316 steel
| Слайд 72 | 
|
Пакет программ DX состоит из программ:
eDX-ZAF и Phi-Rho-Z
eDXauto-p: автоматический анализ по точкам
DXMatch: автоматический качественный анализ
iDXi: распределительный анализ и вывод на экран
Режим: DXLive
Режим: DXQmap
Режим: DXLine
Режим: ЮХас
DXGSR (специальный):
| Слайд 73 | eDXauto-p программа: автоматический анализ по точкам • Автоматический без участия оператора анализ. • Контроль зонда и столика объектов. • Совместимый формат выходных данных. • Полный учет матричных эффектов по линии сканирования. • Щелчок мыши и количественный метод анализа выполнен: - изображение на экране, - диаграмма содержаний элементов с исправленными результатами полного количественного анализа в % по массе. |
| Слайд 74 | 
|
| Слайд 75 | 
|
Программа DXMatch осуществляет сигнатурный анализ. Для этого создана библиотека большого числа спектров (200). Причем пользователь может расширить ее, либо создать свою новую пользовательскую библиотеку. После набора спектра ЭД детектором, идентифицируются его пики, затем программа преобразует спектр к виду спектров, хранящихся в библиотеке, и сравнивает его с ними. Пользователь может перед этим выбрать пик любого элемента в неизвестном спектре.
Программа оценивает соответствие спектров параметром и предлагает несколько спектров для выбора. Чем < s, тем лучше соответствие. Количественные результаты могут быть распечатаны, как либо только результаты, либо вместе со спектром.
|
|
|
| Слайд 76 | DXMatch: Автоматическая идентификация спектра • Идентификация неизвестного спектра по сравнению с библиотекой спектров. • Создание библиотек. • Надежность в установлении соответствия. • Может быть использована: - автоматически в основной программе eDX, - в ручную внутри программы eDXauto, - самостоятельная программа. |
| Слайд 77 | 
|
| Слайд 78 | iDXi: Накопление изображения и вывод данных: • Последовательный интерфейс пользователя. • Высокое разрешение рентгеновских карт. • Одновременное изображение 15 элементов. • Совмещение цветных или черно-белых карт, • Измерение распределения по площадям. • Полный контроль зонда и столика объектов. |
| Слайд 79 | 
|
| Слайд 80 | iDXi: Распределительный анализ • Режим DXLive: Качественное распределение интенсивности аналитических линий по площади непрерывное отображение. • Режим DXLine: Сканирование по линии. Результаты преобразованы в MS Excel. • Режим DXQmap: Количественное распределение интенсивности аналитических линий по площади. Истинное распределение элементов • Режим iDXac: Распределение фаз по площадям и качественный анализ. |
|
|
|
| Слайд 81 | 
|
| Слайд 82 | 
|
Режим DX - Qmap:
Дает возможность получить распределение элементов, получив картину распределения либо интенсивностей аналитических линий по площади, либо рассчитанное по ним распределение содержания элементов.
Программа DX - Qmap – программа картирования очень быстро работает. Она дает распределение по площади либо интенсивности аналитических линий, либо распределение концентрации определяемых элементов. Одновременно она может обрабатывать 15 элементов, проводя учет фона и полностью исправляя матричные эффекты и исключая перекрытие рентгеновских спектров.
На рисунке показан минералогический шлиф, состоящий из трех основных фаз:
сульфид свинца (PbS)
серу содержащий минерал, но не содержащий Pb,
силикатные минералы, не содержащие ни S, ни Pb.
На изображении во вторичных электронах видны три уровня серого.
Очень темные области – это силикатные минералы, не содержащие ни S, ни Pb.
Серые области – это сульфидные минералы, средний атомный номер которых меньше атомного номера PbS.
|
|
|
Белые участки – это PbS.
PbM1 - 5,286 Ǻ
SK1 - 5,372 Ǻ
PBL1 - 1,175 Ǻ.
| Слайд 83 | 
|
Анализ частиц состоит из:
анализа формы частицы, измерения периметра частицы, измерения площади частицы, построения распределения по размеру площадей, химической идентификации частиц.
| Слайд 84 | Анализ частиц состоит из: • анализа формы частицы, • измерения периметра частицы, • измерения площади частицы, • построения распределения по размеру площадей, • химической идентификации частиц. |
iDXac: Распределение по размеру площадей и химическая
идентификация отдельных частиц.
| Слайд 85 | 
|
Программа DXGSR специально разработана для быстрой идентификации следов продуктов после выстрела из огнестрельного оружия на одежде и других предметах.
| Слайд 86 | 
|
Литература
1. Практическая растровая электронная микроскопия/Ред. Дж.Гоулдстейн, Х.Яковиц. М.: Мир. 1978. -518 с.
2. Гимельфарб Ф.А., Шварцман С.А. Современные методы контроля композиционных материалов. М.: Металлургия. 1979. - 247с.
|
|
|
3. Кальнер В.Д., Зильберман А.Г. Практика микрозондовых методов исследования металлов и сплавов. М.: Металлургия. 1981. -215с.
4. Микроанализ и растровая электронная микроскопия / Ред. Ф.Морис, Л.Мени, Р.Тиксье М.: Металлургия. 1985. - 408с.
5. Гимельфарб Ф.А. Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов. М.: Металлургия. 1986. - 152с.
6. Johnson G.G., White E.W. X-Ray emission wavelengths and keV Tables for nondiffractive analysis. ASTM Data Series DS 46. 1970. - 42p.
7. Блохин М.А., Швейцер И.Г. Рентгеноспектральный справочник. М.: Наука. 1982.-375.
Дата добавления: 2022-01-22; просмотров: 18; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!