Поправка на флуоресценцию характеристическим излучением ( F )
Отношение дополнительно возбужденной интенсивности к интенсивности, возбужденной электронами g =Iф'/Iп имеет вид:
g = 0,5 CB·Pij·wB·[AA/AB]·[(rA-1)/rA] ·(m¤r)BA/(m¤r)B·(X+Y)·[(UB-1)/UA-1)1,67 (10)
Pij принимает значение PK-K = PL-L = 1; PK-L= 0,24; PL-K = 4,2,
rA -скачок поглощения;
wB -выход флуоресценции рассчитывают, например, по формуле:
[w/(1-w)]1/4 =A + B Z + C Z3 (11).
Значения констант зависят от возбужденного уровня и равны:
K L M
A -0,03795 -0,11107 -0,00036
B 0,03426 0,01368 0,00386
C -1,163*10-6 -2,177*10-7 2,01*10-7
X = [ln(1+u)] / u u = [(m¤r)A/(m¤r)B ] · cosec (12)
Y = [ln(1+v)]/ v v = s / (m¤r)B UB = E0/Eq UA =E0/Eq (13)
После этих общих замечаний перейдем к рассмотрению конкретных возможностей аналитической системы микроскопа XL.
| Слайд 64 | Аналитическая система XL: совместное развитие EDAX-Philips EO. • Основная программа eDX-ZAF/Phi-Rho-Z • eDXauto-p: автоматический анализ по точкам • DXMatch: автоматический качественный анализ • iDXi: распределительный анализ и вывод на экран - Режим: DXLive - - Режим: DXQmap - - Режим: DXLine - -Режим: iDXac • DXGSR ( специальный): |
Аналитическая система XL : совместное развитие EDAX - Philips EO.
|
|
|
Растровые электронные микроскопы фирмы Philips серии XL в основном комплектуются энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения фирмы EDAX. Геометрия микроскопа позволяет монтировать детектор так, чтобы обеспечить оптимальную эффективность в эвцентрической точке. В этой точке одновременно можно использовать детектор вторичных электронов, детектор отраженных электронов и ЭДД с углом выхода 35° для не наклоненного образца. Дисплей микроскопа выводит как электронно-микроскопическое изображение, так и данные детектора. Контроль и обслуживание интегрированной системой обеспечивается единственной мышью и клавиатурой.
Рентгеноспектральный микроанализ в микроскопе XL -30
обеспечивают программы:
· из пакета Phoenix:
ZAF,
PhiRhoZ
· из пакета EDAX's:
PhiZAF.
| Слайд 65 | Рентгеноспектральный микроанализ в микроскопе XL-30 обеспечивают программы: • из пакета Phoenix: - ZAF, - PhiRhoZ • из пакета EDAX’s: - PhiZAF. |
| Слайд 66 | Аналитическая система XL: • Встроенная система EDX • Последовательный интерфейс пользователя XL-EDX • Философия одного сигнала • Программа контроля всей системы • Оптимальная геометрия анализа • Надежные EDS детекторы • Одна система: полное обеспечение заказчика |
Основная программа ЭДД DX4i обеспечивает накопление рентгеновского спектра от пробы, поправку на мертвое время ручную и автоматическую идентификацию пика, автоматическое преобразование микроскопических данных, интегрированный контроль большинства микроскопических параметров, ручное и автоматическое определение фона, стандартный количественный анализ с использованием ZAF и Phi-Rho-Z моделей анализа и различные нормировки, включая пересчет на окислы.
|
|
|
| Слайд 67 | 
|
Программа количественного анализа eDX-ZAF/Phi-Rho-Z состоит из ряда блоков, которые позволяют быстро выполнять различные виды количественного анализа.
| Слайд 68 | Программа количественного анализа eDX-ZAF/Phi-Rho-Z • Интерфейс пользователя XL-EDX. • Процесс контроля одного окна: упорядоченный экран. • Блок разделения данных, использующий DDE/DLL: коррекция - TOA. • Контроль зонда и столика объектов. • Количественный анализ без стандартов. • Нет необходимости в калибровке. • Поправка на толщину покрытия. • Обработка спектра в режиме Off-line |
Окно контроля
| Слайд 69 | 
|
Разделение легких элементов
|
|
|
| Слайд 70 | 
|
| Слайд 71 | 
|
Дата добавления: 2022-01-22; просмотров: 45; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!