Общая характеристика бесконтактных методов



Основу бесконтактных методов исследования составляют спектроскопические методы, включающие в себя методы спектрального анализа, оптической спектроскопии и лазерного рассеяния. Подробное рассмотрение каждого из вышеназванных методов заняло бы много места и времени. Поэтому в этой главе ограничимся лишь изложением отдельных методик определения концентрации, температуры заряженных частиц, основанных на измерении относительных интенсивностей спектральных линий в рамках модели термодинамического равновесия и корональной модели, на исследовании спектральных линий при эффектах Допплера и Штарка, на свойствах лазерного излучения, рассеянного плазмой.

Эти методики, в литературе освещены, на наш взгляд, достаточно хорошо. Однако при изложении этих методик нет единого подхода.

Автор не ставил целью раскрыть теорию уширения спектральных линий, и процесса получения рассеянного излучения, так как это приведет к громоздким математическим выкладкам, а рассмотрел лишь вопросы приложения изучаемых явлений в диагностических целях. Изложенные в этой главе методики определения плазмы с успехом можно применять как для низкотемпературной, так и для горячей плазмы.

II. Методика определения температуры плазмы из анализа относительной интенсивности спектральных линий

При переходе атомов или ионов данного сорта с одного уровня на другой (например, с уровня m1 на уровень n1 и с уровня m2 на n2) плазма излучает. Схема энергетических термов приведена на рис. 10:

 

Рис. 10. Схема энергетических термов

 


m1

                        hw1             Δ e                         m2

n1                                                                             hw2

                                                                           n2

       e1                               e2                          

                                                                                    

                                          основной уровень       

                                                                                                         Интенсивность спектральных линий, отвечающих обоим переходам определяется выражением:

I1=A N1hw1     I2=A N2hw2

где A -вероятности спонтанных переходов, N1, N2-число атомов на верхних уровнях, hw1, hw2-энергия фотонов. Если плазма оптически плотная, то этими же выражениями будет определяться и интенсивность излучения. Предположим, что плазма находится в локальном термодинамическом равновесии (ЛТР). Для этого необходимо выполнение следующих условий:

1) заселенность атомных уровней происходит только за счет электронных столкновений.

2) переход атомной системы в возбужденное состояние и снятие возбуждения сопровождается переходом энергии от электрона к электрону плазмы.

3) на заселенность уровней не влияют излучательные переходы, которые используются для определения температуры электронов плазмы.

 

При соблюдении вышеназванных условий ЛТР заселенность уровней определится критерием Больцмана:

                                                                                                                                                                                                                                                                                        

Относительная интенсивность обеих спектральных линий определится из:

                                                    (17)

Величина A -рассчитывается обычно по квантовомеханическим законам, однако, на практике измеряют не величины A -определяющие интенсивности эмиссионных линий, а силы  f , которые характеризуют вероятность поглощения для данной линии.

Связь между этими величинами дает формула:

Логарифмируя равенство (18) и переходя к длинам волн получим:

 

Выразив из (19) температуру имеем:

                     Т е=               (20)

 

Из анализа выражения (19) и зависимости относительной интенсивности линий (например, углерода и кислорода) (рис.11) следует, что определение температуры с большей точностью возможно лишь при kТе . Если температура изучаемого плазменного объекта достигает сотен электрон вольт, то чувствительность методики оказывается низкой.

Таким образом, описанный выше метод определения электронной температуры по относительным интенсивностям спектральных линий в рамках модели ЛТР пригоден лишь при исследовании низкотемпературной плазмы.

Рисунок 11. Зависимость относительной интенсивности

линий углерода 1 и кислорода 2 от температуры.


Дата добавления: 2018-06-27; просмотров: 276; Мы поможем в написании вашей работы!

Поделиться с друзьями:






Мы поможем в написании ваших работ!