Структурная модель выбора процессорных измерительных средств
Вопросу построения структурных моделей выбора при проектировании датчиков различного назначения посвящен целый ряд работ [40 – 42, 55 – 60]. В учебном пособии предложена структурная модель на основе бинарных отношений между множествами [43].
Структурная модель включает три этапа [43]. На первом этапе осуществляется формализованный переход от множества параметров и признаков технологического процесса (Рис.3.6) к выбору операторных уравнений на основе расстояния между множествами. Исходными являются параметры и признаки технологического процесса, определяющие выбор уравнения и структуры ПрИС. Непосредственно для выбора формируется матрица расстояний для эталонных множеств, соответствующих определенным операторным уравнениям и матрица расстояний между технологическими множествами и эталонными множествами. В результате осуществляется выбор уравнения и структуры ПрИС для автоматизации конкретных технологических операций и технологического процесса в целом.
Множество параметров и признаков технологического процесса
|
Выбор операторных уравнений и структуры процессорных измерительных средств на основе расстояния между множествами
D =  
|
| Выбор оптимального варианта светооптических первичных преобразователей процессорных измерительных средств | |||||||
| Допустимые варианты | Нехудшие варианты
| Оптимальные варианты | |||||
| Матрица допустимых вариантов | Абсолютный критерий | Метод рабочих характеристик | Метод усеченных матриц | Лексикографический метод | Метод уступок | ||
| Определение числа процессорных измерительных средств | |||||||
Рис. 3.6 Структурная модель выбора процессорных измерительных средств.
На втором этапе осуществляется выбор оптимального варианта светооптических первичных преобразователей на основе алгоритма многостадийного выбора (П. 2.1 – П. 2.6) и интегрального показателя эффективности (1.30). В качестве показателей эффективности определены технические характеристики светооптических преобразователей: число элементов в линейке (матрице), размер фоточувствительного элемента линейки (матрицы), расстояние между светочувствительными элементами, частота считывания сигналов, интегральная чувствительность линейки (матрицы), неравномерность интегральной чувствительности линейки (матрицы).
На третьем этапе осуществляется определение числа ПрИС для каждой технологической операции и технологического процесса в целом с учетом результатов предыдущих двух этапов и параметров и признаков технологического процесса.
|
|
|
Дата добавления: 2018-04-05; просмотров: 245; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!