Краткое описание результатов для совокупности индивидуальных проб
Определение среднего значения для серии проб, отобранных на одной площади поверхности, является уместным, если следует сравнить загрязнение двух поверхностей. Необходимым условием для этого является предположение об однородности загрязнения в конкретных областях.
В случае если суммируют совокупность индивидуальных проб на одной площади поверхности, то сначала складывают невзвешенные подсчитанные структуры 
и затем делят их на всю проанализированную площадь. Это соответствует среднему значению 
для этой площади.
, (3)
где 
- исследуемая пробоотборная область, см 
.
При этом имеет смысл в первую очередь сложить только отдельные волокнистые структуры, не включая мультиволокнистые, так, чтобы конечный результат позднее мог быть утяжелен.
В случае если друг с другом сравнивают средние значения двух площадей, то должны быть проведены испытания на проверку достоверности, основанные на сумме общих найденных структур 
(см. 11.2 ), а не на средней плотности волокнистых структур , вычисленной по формуле (3).
Если проанализированные площади в пробах из двух областей имеют различные размеры, то сумма 
из области 
с большей проанализированной площадью должна быть соответственно преобразована и округлена до целого числа по формуле
, (4)
где 
- сумма структур на площади 
;
- нормированная сумма структур;
|
|
|
- площадь 1;
- площадь 2.
Приложение A
(справочное)
Пример формы для записи подсчета структур с использованием СЭМ
|
| Страница: из: | |||||
| Номер пробы: | Дата: | Ф.И.О. | ||||
| Увеличение: | Площадь области изображения (мм | |||||
| Номер структуры | Номер области изображения | Тип | Структура | Утяжеление | ||
| 1 |
|
| ||||
| 2 |
|
| ||||
| 3 |
|
| ||||
| 4 |
|
| ||||
| 5 |
|
| ||||
| 6 |
|
| ||||
| 7 |
|
| ||||
| 8 |
|
| ||||
| 9 |
|
| ||||
| 10 |
|
| ||||
| 11 |
|
| ||||
| 12 |
|
| ||||
| 13 |
|
| ||||
| 14 |
|
| ||||
| 15 |
|
| ||||
| 16 |
|
| ||||
| 17 |
|
| ||||
| 18 |
|
| ||||
| 19 |
|
| ||||
| 20 |
|
| ||||
| Итого: подсчитано структур/утяжеленный результат |
| |||||
| Расшифровка сокращений | ||||
| Тип (асбестовых волокон) | Структура | Примечания | ||
| C = хризотил | F = волокно | |||
| A = амозит | B = пучок | |||
| CR = крокидолит | C = сгруппированные волокна | |||
| AC = актинолит | M = матрица | |||
| TR = тремолит | ||||
| AN = антофиллит | ||||
| Другие волокна установленного типа и пометки:
| ||||
Приложение B
(обязательное)
Методика калибровки и настройки параметров СЭМ
B.1 Калибровка сканирующего электронного микроскопа
Образец СЭМ исследуют при ускоряющем напряжении приблизительно 1520 кВ и при увеличении от 300 до 400-кратного или при 1000-кратном. Для идентификации волокон с использованием СЭМ рекомендуют ускоряющее напряжение, равное 15-20 кВ.
Увеличение на экране должно быть откалибровано с использованием сертифицированного коммерчески доступного стандарта по увеличению. Важно понимать, что значение увеличения, показанное на некоторых моделях СЭМ, это то увеличение, которое применяют к микроснимкам, полученным регистрирующей системой записи, а не видимое на экране (ЭЛТ-дисплей). Анализ СЭМ проводят непосредственно на проекционном экране, и калибровка увеличения должна относиться к проекционному экрану.
Настройки СЭМ должны быть такими, чтобы волокна шириной приблизительно 0,2 мкм были видны при 1000-кратном увеличении.
Такие настройки устанавливают с помощью волокон подготовленной пробы или пробы для испытания, которые видны при приблизительно 1000-кратном увеличении, используемом для подсчета структур. Ширину этих волокон подтверждают их измерением при 1000-кратном увеличении. Следует выполнять такую настройку перед каждой серией анализов.
|
|
|
Детектор рентгеновского излучения располагают таким образом, чтобы он находился в противоположной стороне от наибольшего телесного угла к поверхности образца.
Примечания
1 На ЭЛТ-дисплее площадью 25 см 
16 см при 1000-кратном увеличении 25 обзорных полей соответствуют 1 мм 
площади образца.
2 Ширина растровой строки на пробе (или пиксельная ширина для СЭМ с цифровым отображением) и диаметр электронного пучка являются факторами, которые определяют разрешение СЭМ. При условии, что ширина растровой строки или пиксельная ширина не превышают 0,25 мкм, не наблюдают никакого серьезного ухудшения изображения, относящегося к разрешению волокон толщиной 0,2 мкм длиннее 5 мкм.
Дата добавления: 2019-09-13; просмотров: 223; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!