Измерение магнитосопротивления
С помощью установки для измерения магнитосопротивления было измерено сопротивление полученных образцов после их травления. Блок-схема установки представлена на рисунке 10.
Рисунок 10 — Схема установки для измерения магнитосопротивления в тонких пленках:
1 — столик для образца; 2 — образец; 3 — токоподводящие контакты; 4 — магнитная система; 5 — тесламетр (прибор для измерения напряженности магнитного поля); 6 — источник питания электромагнита; 7 — компьютер; 8 — вольтметр; 9 — система развертки магнитного поля
Исследуемый образец (2) помещался на специальный столик (1) с проградуированной шкалой от 0 до 3600. На столике к образцу подводились четыре контакта (3) (два токовых - LF, HF и два контакта для измерения напряжения - HS, LS). Далее исследуемый образец, закрепленный на измерительном столике, помещался в магнитное поле, создаваемое между полюсами электромагнита (4). Измерение магнитного поля осуществлялось тесламетром (Lake Shore 425) – (5). Питание электромагнита осуществлялась с помощью источника ТЕС 5010 (6). Развертка магнитного поля осуществлялась с помощью звукового генератора (9). Сигнал с зондов (3) подавался на прецизионный измеритель напряжения (8) и далее поступал на компьютер (7).
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
За время прохождения летней практики был прослушан курс лекций по следующим темам: «Методы получения, свойства и применение тонких ферромагнитных пленок», «Ориентированные нанотрубки», «Спинтроника» и «Методы фотолитографии».
|
|
|
В ходе практической работы было проведено ознакомление с методами получения микро- и нано- структур, а так же исследование их свойств, а, именно, с технологией фотолитирования на установке для фотолитографии MJB 4, ознакомление с работой на установке для измерения магнитосопротивления, были изучены принципы работы оптического микроскопа Olympus, профилометра Dektak 150 и установки ионного травления.
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ
1 Методы оптической литографии. [Электронный ресурс] // Studopedia [Электронный ресурс]. URL: http://studopedia.net (дата обращения: 17.12.2017). Загл. с экрана. Яз.русс.
2 Фотолитография. Изготовление фотошаблонов, методы уменьшения технологической нормы. [Электронный ресурс] // Studfiles [Электронный ресурс]. URL: http://www.studfiles.ru (дата обращения: 17.12.2017). Загл. с экрана. Яз.русс.
3 Абатурова, А. М. Нанобиотехнологии: практикум: учебное пособие / А. М. Абатурова, Д. В. Багров, А. А. Байжуманов, А. П. Бонарцев, А. Р. Браже. М. : Изд-во Бином. Лаборатория знаний, 2012. 384 с.
4 Интегральная схема. [Электронный ресурс] // Википедия [Электронный ресурс]. URL: https://ru.wikipedia.org (дата обращения: 23.12.2017). Загл. с экрана. Яз.русс.
5 Dektak 150 Surface Profiler. [Электронный ресурс] // Upc [Электронный ресурс]. URL: http://www.upc.edu (дата обращения: 07.07.2015). Загл. с экрана. Яз.русс.
Дата добавления: 2018-04-15; просмотров: 536; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!