Элементы центральной проекции
Снимок, полученный кадровым ф/аппар, является центральной проекцией (изобр, которого строится проектирующими лучами проходящими ч/з одну точку). Карта - ортогональной проекцией (проектирующие лучи || м/у собой и перпенд плоскости изображения)
Е -предметная плоскость или плоскость основания (гориз. пл. местности) Р -картинная плоскость(пл. снимка) Q -пл. главн. Вертикала-вертик-ая плос-ть проход-ая ч/з гавный луч(можно провести только одну вертикальную плоскость); S- т. фотогр-ия, центр проекции, точка пересечения оптических лучей. О -гл. т. снимка. n -т. надира. с -т. нулевых искажений- пересечение угла наклона (биссектрисы) └ 
с плоскостью снимка Р; N, С -точки на местности (на пл. Е, соотв-ие n, с, о на снимке); I - гл. точка схода; f-фокусное расс-ие фотокамеры-расс-ие от т.S до снимка;
SO -гл. оптический луч(SO┴P; SO = f); Sn -надирный луч, отвесный луч SN = Н-высота фотографирования (отвесная линия); OCN-линия направления съемки; ТТ -линия основания картины- пересечение плоскостей Р и Е; iSi-плоскость истинного горизонта-горизонтальная плоскость проходящая через е.S; ii -линия действительного горизонта- пересечение плоскости действительного горизонта с плос-ю сн-ка; V v -линия направления съемки; vv -гл. вертикаль; hсhс -линия нулевых искажений; └ 
= └ OSN (угол наклона снимка). Если └ 
=0 то снимок горизонтальный; └ <3° плановый, └ > 3º наклонный, └ 
>>3 градусов перспективный. оn=f tg 
; oc=f 1/2 ; оI=f c tg ; расстояние SI=f /sin . Свойства: 1. В точке I сходиться изображение всех прямых лежащих в предметной плоскости Е и ║ линий направления съемки V v; Точка I явл. изобр-м бесконечно удаленных т.прямых,║линии направл. съемки
|
|
|
2. В т. n нет смещений за рельеф
местности; В т. n сходится изображения всех вертикальных отрезков; Т. n является изображением бесконечно удаленных точек отвесных прямых;
3. В т. с нет смещения за угол на
клона сн-ка;В т. с на линии hchc масштаб наклонного снимка равен масштабу гориз.сн-ка =f/H.
Масштаб снимка изменяется при переходе от одной точки к другой и изменении направления в одной и той же т. Поэтому, для определения м-ба сн-ка в какой либо т. опред-ся отношение бесконечно малого отрезка на сн-ке к соотв-му отрезку на мест-ти.
М-б сн-ка зависит от: 1.высоты фотогр-ия; 2.фокусного расст. Фотокамеры; 3.угла наклона снимка.
М-б гориз-го сн-ка постоянен, т.е. l/m= f/H, т.о. масштаб гориз-ого сн-ка плоской местности -величина постоянная. Если сн-к наклонный, а местность плоская, то 1/m≠const. Масштаб горизонтального сн-ка и наклонной местности 1/m≠const. Сн-к не горизонтальный и плоскость наклонна, то масштаб не постоянен.
Масштаб вдоль каждой горизонтали величина постоянная.
|
|
|
Идеальный объектив
При АФС изобр-ия объектов получают с помощью АФА, т.е. изобр-ие строится с помощью объектива в пл-ти прикладной рамки на ф/пленке. При выводе формул вместо реального будем использ-ть идеальный объектив. ИО строит изобр-ие соотв-щее централ. проекции.
При постр-ии ИО действ-т з-ны геометр-ой оптики:
1. Прямолинейность распростр-ия света в однородн. среде. 2. Отражение и преломление лучей на границе 2-х сред. 3. обратимость световых лучей; 4. независимоть различных световых пучков
При построении изобр-ия ИО наблюд-ся след. закономер-ти:
1. Гомоцентрический пучек после прохождения ч/з объектив остается гомоцентр-им, т.е. точка объекта будет изобр-ся точкой. 2. Пл-ть расположенная ┴ гл.опт. оси так же будет изобр-ся ┴ гл.опт. оси.
3. Плоский объект распол-ый ┴ гл. опт.оси и его изобр-ие будут подобны, т.е. ИО строит изобр-ие в централ. проекции.
FF’ -оптич. ось объектива; S и S’ -перед. и задн. гл. точки объектива, (узловые; F и F’ -перед. и задн. фокусы объектива; H и H’ -перед. и задн. гл. пл-ти объектива; Fo и Fo’ -перд. и задн. фокальные пл-ти; fo и fo’ -перед. и задн. фокус-ое расст-ие;
Извесно,что если объект нах-ся в ∞,то изобр-ие строится в фокальн. пл-ти. Для геометр. построения изоб-ия достат-но пользоваться лучами проход-ми ч/з гл. точки объектива. └β- угол м/ду гл. лучем и лучем от т. объекта до задн. гл. т. объектива равен └β’- угол м/ду гл. лучем и лучем выходящим из объектива. └β=└β’. Т.к. расст-ие м/ду H и H’ не влияет на постр-ие изоб-ия, то точки S и S’ считаем совпад-ми и т. S назыв-ем центром фотогр-ия, а расст-ие до F’фокус-м расст-м. Вывод: Изобр-ие с пом-ю объектива строится по з-нам центр. проекции, т.е. лучами прох-ми ч/з одну т. S. Изобр-ие может строится на пл-ти, на поверх-ти цилиндра, конуса и др.
|
|
|
Осн. искажения реального объектива:
Нарушение ортоскопии – дисторсия:
- центрир-го объ-ва(смещение точек отн-но идеального положения по радиальным напр-м, кот. прох-т ч/з гл.т.снимка),
-нецентрир-го объ-ва(сост-т из радиальной и тангенсальной(направлена ┴ к радиальной))- бочкообр-ая, подушкообр-ая.
Значение оста-ой дисторсии опр-ся при калибровке камер.
Другие искажения снимков:
- деформация ф/мат-ла возникает при ф/хим. обр-ке (системат-ая и случайная);
Случайная из-за неоднородности строения ф/материала. Системат-я: равномерная, неравномерная (м/б со сдвигом), деформация сдвига. Коэф-т деформации: Кх=lx˚/lx; Кy=ly˚/ly; lx˚, ly˚-паспортные значения расст-ия м/у противопол-ми коорд-ми метками; lx, ly-измер-ые расст-ия м/у коорд-ми метками; lx=Охмп-Охмл; ly=Оумв-Оумн; Охмп, Охмл, Оумв, Оумн - отсчеты на правую, левую, верхнюю и нижнюю метки. Испр-ые коорд-ты: Х=Кх*Хизм.; У=Ку*Уизм. Для опр-ия сл-х деформаций использ-т сетку Готье, коорд-ты крестов вып-ны с высокой точностью. для описания более сложных деформаций может использоваться полиномиальный метод.
|
|
|
- невыравнивание ф/материала в пл-ть искажение носит случайный хар-р, значит нельзя его предусмотреть, но можно оценить степень деформации.
δr -смещение, вызванное неприжимом пленки; δr=aoaI, oao=ro, oaI=r, дано: f, ∆f, r. ∆f /f= 
/r; =∆f r /f.
- Атм. Рефракция В дейст-ти происходит искривление свет. луча, т.к. он распр-ся в среде переменной плотности. λ- ф/грам-ая рефракция - угол м/у прямой, соеденяющей точку S и А, и касательной к световому лучу.
δr- смещение,вызываемое влиянием разности плотности среды.
- Смаз изображения
δ=Wtf/Н; W –крейсерская ск-ть ЛА, t-время экспозиции, f/Н-масштаб.
- Клиновидность светофильтра - искажение, вызванное непареллельностью с плоск-ю иллюминатора.
Дата добавления: 2015-12-18; просмотров: 31; Мы поможем в написании вашей работы! |
Мы поможем в написании ваших работ!