Дифракция Фраунгофера на дифракционной решетке.



 

Одномерная дифракционная решетка — система параллельных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделенных равными по ширине непрозрачными промежутками.

 

Распределение интенсивности в дифракционном спектре каждой щели определяется направлением дифрагированных лучей и дифракционные картины, создаваемые каждой щелью будут одинаковыми.

 

Суммарная дифракционная картина есть результат взаимной интерференции волн, идущих от всех щелей — в дифракционной решеткеосуществляется многолучевая интерференция когерентных дифрагированных пучков света, идущих от всех щелей.

Если a — ширина каждой щели; b — ширина непрозрачных участков между щелями, то

величина d = a + b называется постоянной  
(периодом) дифракционной решетки.  
d =     где N 0 — число щелей, приходя-  
   
    щееся на единицу длины.  
N 0  
   
       


 

А.Н.Огурцов. Лекции по физике. Оптика


6–16

 

Разности хода ∆ лучей, идущих от двух соседних щелей, будут для данного направления ϕ одинаковы в пределах всей дифракционной решетки:

∆ = CF = (a + b)sin ϕ = d sin ϕ.

 

Очевидно, что в тех направлениях, в которых ни одно из щелей не распро-страняет свет, он не будет распространяться и при двух щелях, т.е. прежние(главные) минимумы интенсивности будут наблюдаться в направлениях a sin ϕ = ± (m =1, 2,3,K). Кроме того, вследствие взаимной интерферен-

ции, в направлениях, определяемых условием d sin ϕ = ±(2 m +1) λ 2 световые

лучи, посылаемые двумя соседними щелями, будут гасить друг друга — воз-никнут дополнительные минимумы. Наоборот, действие одной щели будет

 

усиливать действие другой, если d sin ϕ = ±2 m λ 2 (m =1, 2,3,K) условиеглавных максимумов.

В общем случае, если дифракционная решетка состоит из N щелей, то:

условие главных максимумов: d sin ϕ = ± (m =1, 2,3,K)

условие главных минимумов: a sin ϕ = ± (m =1, 2,3,K)
между двумя главными максимумами располагается N −1
  дополнительных минимумов, разделенных вторичными максимумами,
  создающими слабый фон. Условие дополнительных минимумов:

d sin ϕ = ± mλ N, (где m ′ может принимать все целочисленные значения,

 

кроме 0, N, 2N,… при которых данное условие переходит в условие главных максимумов).

Амплитуда главного максимума есть сумма амплитуд колебаний от каждой щели A max = NA 1. Поэтому, интенсивность главного максимума в

 

N 2 раз больше интенсивности I 1, создаваемой одной щелью в направлении  
главного максимума: I max = N 2 I 1.   Например, на рисунке  
                         
                        представлена ди-  
                        фракционная картина  
                        для N = 4. Пунктирная  
                        кривая изображает  
                        интенсивность от  
                        одной щели, умножен-  
                        ную на N 2.      
Положение главных максимумов зависит от длины волны λ, поэтому  
при пропускании через   решетку белого света все максимумы, кроме  
m= –2     –1   +1 +2   центрального (m = 0), разложатся в  
      спектр, фиолетовая область которого  
                       
цвет к ф   к ф   б ф к   ф к   будет обращена к центру дифракционной  
                      картины, красная — наружу. Поэтому  
                                 

дифракционная решетка может быть использована как спектральный прибор

для разложения света в спектр и измерения длин волн.

Число главных максимумов,даваемое дифракционной решеткой:      
m d (поскольку   sin ϕ   ≤1).  
     
λ  
             

 

А.Н.Огурцов. Лекции по физике.


6–17

 


Дата добавления: 2016-01-04; просмотров: 120; Мы поможем в написании вашей работы!

Поделиться с друзьями:






Мы поможем в написании ваших работ!